奧林巴斯BX53M材料金相顯微鏡

奧林巴斯BX53M可以實(shí)現(xiàn)高級(jí)的顯微觀察，機(jī)身的設(shè)計(jì)更是可以進(jìn)行便捷的顯微操作。奧林巴斯BX53M屬于奧林巴斯新一代工業(yè)金相顯微鏡。

BX53M系列采用了模塊化設(shè)計(jì)，為廣泛的材料學(xué)和工業(yè)應(yīng)用提供了多樣化的解決方案。BX53M改進(jìn)了與奧林巴斯Stream軟件的集成性，從而為常規(guī)顯微鏡檢查和數(shù)碼成像用戶提供了從觀察到報(bào)告創(chuàng)建的無縫工作流程。BX53M根據(jù)工業(yè)和材料學(xué)的不用應(yīng)用，可以組合成反射顯微鏡、透反射顯微鏡、紅外顯微鏡、偏光顯微鏡等多種應(yīng)用的顯微鏡。

BX53M采用了新的編碼功能，將顯微鏡的硬件設(shè)置與奧林巴斯Stream圖像分析軟件整合在一起。觀察方法、照明強(qiáng)度和物鏡位置全都記錄在軟件和/或手動(dòng)控制器里。編碼功能使顯微鏡設(shè)置能夠與每幅圖像一起自動(dòng)保存，從而使此后還原設(shè)置，以及為報(bào)表提供文檔記錄更加方便。既節(jié)省了操作者的時(shí)間，又減小了使用不正確設(shè)置的概率。當(dāng)前的觀察設(shè)置總是清晰地顯示在手動(dòng)控制器和軟件上。

BX53M保留了常規(guī)顯微鏡檢查的傳統(tǒng)襯度對(duì)比法，比如明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光和微分干涉。隨著新材料的發(fā)展，現(xiàn)在可以使用*的顯微鏡檢查技術(shù)來進(jìn)更可靠的檢查，從而解決了以往很多使用傳統(tǒng)襯度對(duì)比法檢查時(shí)遇到的缺陷檢測(cè)方面的困難。

本文內(nèi)容僅供參考。